GDYHM-V激光鹽密灰密測(cè)試儀

GDYHM-V激光鹽密灰密測(cè)試儀

1.2  儀器介紹

GDYHM-V激光鹽密灰密測(cè)試儀采用新型檢測(cè)技術(shù)將灰密測(cè)試與鹽密測(cè)試合二為一，可同時(shí)檢測(cè)出被測(cè)絕緣子的灰密度和鹽密度，簡(jiǎn)化了絕緣子污穢檢測(cè)的流程，非常適合在巡檢現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室使用。

 1.3  依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

XXX 激光鹽密灰密測(cè)試儀依據(jù)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)如下表所示：

1.4  判斷依據(jù)

Q/GDW1152.1-2014《電力系統(tǒng)污區(qū)分級(jí)與外絕緣選擇標(biāo)準(zhǔn)》中規(guī)定污穢等級(jí)與等值鹽密的關(guān)系如下表：

 1.5  術(shù)語(yǔ)解釋

灰密度（NSDD）: 絕緣子單位絕緣表面上清洗的非可溶殘留物除以表面積，一般表示為mg/ cm2。

附鹽密度（SDD）: 人工涂覆于給定絕緣子表面（不包括金屬部件和裝配材料）上的氯化鈉總量除以表面積，

一般表示為mg/ cm2。

等值附鹽密度（ESDD）: 絕緣子單位絕緣表面上的等值附鹽量，一般表示為mg/ cm2。

爬電距離 : 在兩個(gè)導(dǎo)電部分之間，沿絕緣體表面的最短距離。

統(tǒng)一爬電距離（USCD）: 絕緣子的爬電距離L除以試驗(yàn)電壓與                                               的積，一般表示為mm/kV。

污穢層 : 由鹽和惰性材料組成的絕緣子表面上的導(dǎo)電電解層。

現(xiàn)場(chǎng)污穢度等級(jí) : 將污穢嚴(yán)重程度從非常輕到非常嚴(yán)重按SPS（ESDD/NSDD的最大值）的分級(jí)。

二、產(chǎn)品信息

2.1   主要特點(diǎn)

?  內(nèi)置測(cè)試專用測(cè)試軟件，鹽密灰密一體化完成測(cè)試；

?  嵌入式操作，直觀快捷的人機(jī)交互界面，參數(shù)可靈活設(shè)置；

?  全自動(dòng)一體化燒杯式測(cè)試方案，按要求配置好溶液后，采用人工攪拌的方式，并插入專用電極采集信號(hào)；

?  測(cè)試完成后，請(qǐng)分別將2支電極用蒸餾水反復(fù)清洗3次，并擦干保存；

?  便攜式設(shè)計(jì)，便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試或?qū)嶒?yàn)室使用；

?  采用激光變頻透射原理，實(shí)現(xiàn)灰密直接測(cè)試，無(wú)需過(guò)濾、烘干稱量；

?  智能化數(shù)據(jù)分析，測(cè)試結(jié)果多種輸出模式，包括直讀測(cè)試結(jié)果，打印報(bào)表，通過(guò)USB接口直接導(dǎo)出測(cè)試結(jié)果到U盤；

?  儀器自帶微型打印機(jī)，直接打印測(cè)試結(jié)果。